熒光滲透檢測(cè)線探傷是探測(cè)金屬材料或部件內(nèi)部的裂紋或缺陷。

常用的探傷方法有：X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷（著色探傷）、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷等方法。

通用磁粉探傷機(jī)廠家這里著重介紹的是物理探傷，物理探傷就是不產(chǎn)生化學(xué)變化的情況下進(jìn)行無損探傷。而在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，對(duì)被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測(cè)試手段我們稱為無損探傷。

X光射線探傷就是利用x射線穿透物體進(jìn)行內(nèi)部檢查的的一種探傷方法。遇見缺陷（面積型缺陷比較有效），射線能量會(huì)發(fā)生減弱，這樣底片上就會(huì)成像，類似我們照相的底片。在觀片燈下就可以觀察了。

超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí)，在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來檢查零件缺陷的一種方法，當(dāng)超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與零件底面時(shí)就分別發(fā)生反射波來，在熒光屏上形成脈沖波形，根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。

射線探傷和超聲波探傷是兩種最常用的檢查內(nèi)部缺陷的方法。

渦流探傷是利用電磁感應(yīng)原理，檢測(cè)導(dǎo)電構(gòu)件表面和近表面缺陷的一種探傷方法。其原理是用激磁線圈使導(dǎo)電構(gòu)件內(nèi)產(chǎn)生渦流量，借助探測(cè)線圈測(cè)定渦電流的變化量，從而獲得構(gòu)件缺陷的有關(guān)信息。

按探測(cè)線圈的形狀不同，可分為穿過式（用于線材、棒材和管材的檢測(cè)）、探頭式（用于構(gòu)件表面的局部檢測(cè)）和插入式（用于管孔的內(nèi)部檢測(cè)）三種。

各類探傷機(jī)（儀）的計(jì)量性能如何，直接影響探傷結(jié)果的正確判斷。為此，無錫市計(jì)量檢定測(cè)試中心根據(jù)探傷機(jī)的檢測(cè)原理，建立了相應(yīng)的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)裝置，以此滿足客戶對(duì)各類探傷機(jī)（儀）的計(jì)量校準(zhǔn)需求，確保探傷機(jī)計(jì)量性能的正確可靠。例如：

依照J(rèn)JF1273-2011《磁粉探傷機(jī)校準(zhǔn)規(guī)范》建立了測(cè)量范圍為（0～10000）A，準(zhǔn)確度為±0.05%的磁粉探傷機(jī)校準(zhǔn)裝置，開展測(cè)量范圍為（0～10000）A，準(zhǔn)確度為±5%的磁粉探傷機(jī)的校準(zhǔn)工作。

依照J(rèn)JG40-2011《X射線探傷機(jī)檢定規(guī)程》建立了測(cè)量范圍：空氣比釋動(dòng)能率為（0.1～100）cGy/min，X射線范圍為≤400kV，準(zhǔn)確度為±5%的X射線探傷機(jī)檢定裝置，開展準(zhǔn)確度為±10%的X射線探傷機(jī)的校準(zhǔn)工作。

依照J(rèn)JG746-2004《超聲探傷儀檢定規(guī)程》建立了測(cè)量范圍：頻率為（0.5～15）MHz，衰減為（0～81）dB，準(zhǔn)確度：頻率為5×10-4，衰減為（0.5%A±0.02）dB的超聲探傷儀檢定裝置，開展準(zhǔn)確度為±1dB/12dB的超聲探傷儀的檢定。